探針根據(jù)電子測試用途可分為：

A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進口產(chǎn)品；

B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；優(yōu)良產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進口探針產(chǎn)品；

C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）

垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1、ICT探針　（ICT series Probes)

一般直徑在2.54mm-1。27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標準稱呼100mil，75mil，50mil，還有更特別的直徑只有0。19mm，主要用于在線電路測試和功能測試。也稱ICT測試和FCT測試。也是目前應(yīng)用較多的一種探針。

2、界面探針(Interface Probes)

非標準的探針，一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne)和安捷倫（Agilent)。用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面。

3、微型探針（MicroSeries Probes)

兩個測試點中心間距一般為0。25mm至0。76mm。

4、開關(guān)探針（Switch Probes)

開關(guān)探針單獨一支探針有兩路電流。

5、高頻探針（Coaxial Probes)

用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的。

6、旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes)

彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試。

7、高電流探針（High Current Probes)

探針直徑在2。54mm-4。75mm之間．最大的測試電流可達39amps。

8、半導體探針 (Semiconductor Probes)

直徑一般在0。50mm-1。27mm之間．帶寬大于10GHz，50Ω characteristic。

9、電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長。

除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用。